Characterizing crystalline defects in single Xe nanoparticles from angular correlations of single-shot diffracted X-rays
Niozu, A.; Kumagai, Y.; Nishiyama, T.; Fukuzawa, H.; Motomura, K.; Bucher, M.; Ito, Y.; Takanashi, T.; Asa, K.; Sato, Y.; You, D.; Li, Y.; Ono, T.; Kukk, E.; Miron, C.; Neagu, L.; Callegari, C.; Di Fraia, M.; Rossi, G.; Galli, D. E.; Pincelli, T.; Colombo, A.; Kameshima, T.; Joti, Y.; Hatsui, T.; Owada, S.; Katayama, T.; Togashi, T.; Tono, K.; Yabashi, M.; Matsuda, K.; Bostedt, C.; Nagaya, K.; Ueda, K.
2020
Résumé
We performed a wide-angle X-ray scattering experiment of single Xe nanoparticles using an X-ray free electron laser. We developed a novel analysis method that focuses on the angular correlation between plural Bragg spots in single-shot diffraction patterns. The angular correlations of the Bragg spots encode rich structural information and offer an evidence of twinning and stacking faults in Xe nanoparticles.
Détails
Titre
Characterizing crystalline defects in single Xe nanoparticles from angular correlations of single-shot diffracted X-rays
Auteur(s)
Niozu, A. ; Kumagai, Y. ; Nishiyama, T. ; Fukuzawa, H. ; Motomura, K. ; Bucher, M. ; Ito, Y. ; Takanashi, T. ; Asa, K. ; Sato, Y. ; You, D. ; Li, Y. ; Ono, T. ; Kukk, E. ; Miron, C. ; Neagu, L. ; Callegari, C. ; Di Fraia, M. ; Rossi, G. ; Galli, D. E. ; Pincelli, T. ; Colombo, A. ; Kameshima, T. ; Joti, Y. ; Hatsui, T. ; Owada, S. ; Katayama, T. ; Togashi, T. ; Tono, K. ; Yabashi, M. ; Matsuda, K. ; Bostedt, C. ; Nagaya, K. ; Ueda, K.
Publié dans
31St International Conference On Photonic, Electronic And Atomic Collisions (Icpeac Xxxi)
Série
Journal of Physics Conference Series
Volume
1412
Pages
202028
Présenté à
31st International Conference on Photonic, Electronic and Atomic Collisions (ICPEAC), Jul 23-30, 2019, Deauville, FRANCE
Date
2020-01-01
Editeur
Bristol, IOP PUBLISHING LTD
Autres identifiant(s)
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Laboratoires
ELAB
Le document apparaît dans
Production scientifique et compétences > STI - Faculté des sciences et techniques de l'ingénieur > IEM - Institute of Electrical and Micro Engineering > ELAB - Electronics Laboratory
Publications validées par des pairs
Papiers de conférence
Travail produit à l'EPFL
Publié
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Travail produit à l'EPFL
Publié
Date de création de la notice
2021-06-19